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X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀同步輻射X射線吸收近邊結構主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態、 配位數、位形與鍵長。

擴展x射線吸收精細結構譜儀主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態、 配位數、位形與鍵長。

X射線精細結構譜是一種通過分析材料對X射線的吸收邊附近及高能區的精細振蕩，揭示目標原子局域結構與化學環境的高精度表征技術。其核心分為??X射線近邊吸收譜??和??擴展邊精細結構。

臺式XAFS(x射線吸收精細結構譜儀)??是一種實驗室級小型化設備，能夠在常規實驗室內實現X射線吸收精細結構（XAFS）的測量與分析。其核心目標是通過緊湊設計和高集成度技術，將傳統依賴同步輻射光源的X...

衍射光柵是一種由周期性排列的狹縫或凹槽構成的光學器件，基于??多光束干涉與衍射原理??，將入射光按波長精確分離，形成清晰的光譜。

雙PMT探測器是一種使用兩個光電倍增管作為探測元件的裝置。PMT是一種真空電子器件，具有高靈敏度和高增益的特點。當光陰極面受到光照后，由于光電效應會釋放出光電子，這些光電子在倍增級中實現連續的倍增，從...

X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀XANES主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態、 配位數、位形與鍵長。

X射線近邊吸收譜作為X射線吸收光譜的核心組成部分，是研究材料局域電子結構、化學態及配位環境的強有力工具，為理解構效關系、優化材料設計提供直接依據。

配位結構表征是化學領域中用于描述和定義配位化合物空間結構和特性的重要手段。它涉及對配位物的空間排列方式、中心原子與配位體之間的相互作用以及整體穩定性的詳細分析。

CT型真空紫外光譜儀 極紫外光源，采?Czerny-Turner光學結構，可以在空間上將復?光分成?系列單?光，系統由平?衍射光柵、前后準直聚焦鏡及CCD探測器組成。